无需拆机即可检测新 iPhone 的 NAND 架构
  • 快科技
  • 2014年11月11日 22:42
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  威锋网讯,自?iPhone?6?发布之后,网上就传出了各种各样的硬件问题,其中比较“著名”的要数“弯弯门”了,另外在?NAND(闪存)方面,也曝出过不好的新闻。早前更是有消息指出苹果计划召回?128GB?的新?iPhone(虽然后来没有了下文)。  根据韩国媒体?BusinessKorea?的报导,苹果正在考虑将?iPhone?6?和?iPhone?6?Plus?的?NAND?闪存构架从三阶储存单元(Triple-Level?Cell,即?TLC)改为多阶储存单元(Multi-Level?Cell,即?MLC),其主要原因就是前段时间曝出的?NAND?闪存引起的崩溃现象。而主要出现这种问题的设备主要集中在?64GB?和?128GB?的新?iPhone?上。  那么如何检测自己的?iPhone?闪存是否使用了?TLC?的架构呢?锋友?jocover?和我们分享了一个检测的方法(安装插件),该方法除了可以检测出闪存的架构之外,还可以检测出闪存的供应商(苹果在闪存方面使用了不同的供应商)。这个检测方法需要越狱才能进行,请点击原文查看详细教程和注意事项。


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